本文標(biāo)題："金屬導(dǎo)電性質(zhì)-隨厚度增加，導(dǎo)電區(qū)域數(shù)目增加"

掃瞄探針顯微技術(shù)是觀測(cè)奈米等級(jí)材料的重要技術(shù)，其中原子力顯微鏡及其衍生技術(shù)應(yīng)用廣，

其量測(cè)方式為以探針在極接近樣品表面時(shí)，進(jìn)行樣品表面掃瞄及局部物性量測(cè)。藉由導(dǎo)電原子力顯微鏡

量測(cè)不同型態(tài)的聚苯胺膜在探針接觸且同時(shí)施加電壓下的表面型態(tài)、導(dǎo)電區(qū)域及導(dǎo)電特性。

EB 態(tài)與 ES 態(tài)之聚苯胺膜表面型態(tài)類似，但從 HCl(aq)、HClO4(aq)中制備而得之聚苯胺膜為圓盤狀堆疊，而由

H2SO4(aq)中制得為鏈狀堆積，但表面型態(tài)不受膜厚度及摻雜酸種類影響。

由 CAFM 的數(shù)據(jù)得知所有聚苯胺膜的導(dǎo)電度都不均勻，整塊膜可視為導(dǎo)電（絕緣）島嶼散佈在絕緣（導(dǎo)電）海中且隨聚苯胺膜的摻雜

度、厚度、與摻雜子的不同而變化：隨摻雜程度增加，其導(dǎo)電區(qū)域從孤立小島演變成密集分佈連結(jié)的島嶼，

而 I-V 曲線也顯示其由半導(dǎo)體

性質(zhì)演變成具有金屬導(dǎo)電性質(zhì)；隨厚度增加，導(dǎo)電區(qū)域數(shù)目增加，

后連結(jié)成大板塊，且 I-V 曲線也由半導(dǎo)體變成具類金屬的導(dǎo)電特性；

在 HClO4（aq）中制得之聚苯胺膜（<120 nm），分子鏈的共軛程度短，

因此用 HCl、H2SO4、與 HClO4 摻雜后的導(dǎo)電度類似且皆為半導(dǎo)體，由

H2SO4(aq)、與 HCl(aq)聚合而得之聚苯胺薄膜分子鏈的共軛程度類似，且

皆以 HClO4 摻雜后的導(dǎo)電度高，并呈現(xiàn)金屬導(dǎo)體特性

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金屬導(dǎo)電性質(zhì)-隨厚度增加，導(dǎo)電區(qū)域數(shù)目增加,熒光顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)