本文標(biāo)題："不透光度皆高于實(shí)測之不透光度-光學(xué)測量儀器"

不透光度皆高于實(shí)測之不透光度-光學(xué)測量儀器

控制與操作各項(xiàng)微粒散光因子之觀測

系統(tǒng)，觀察因微粒散光造成之不透光度，并利用氣膠微粒與已知功率之雷射光源的互

動(dòng)，解析 Beer’s Law 中各項(xiàng)消光因子及其對(duì)不透光率之貢獻(xiàn)。氣膠消光性質(zhì)之影響因

子主要分為氣膠微粒數(shù)目濃度、粒徑分布以及光學(xué)折射率。相較于理論預(yù)測之限制與

野地觀測之環(huán)境不確定性，本研究利用實(shí)驗(yàn)方法控制環(huán)境條件，以利解析微粒對(duì)不透

光度之影響機(jī)制。本研究將結(jié)果與比爾定律預(yù)測結(jié)果加以比較，并探討適用比爾定律

預(yù)測之條件

理論不透光度皆高于實(shí)測之不透光度，尤其在操作微粒粒徑與數(shù)目濃度因子

時(shí)，有隨粒徑或濃度因子變大而使實(shí)測不透光度逐漸偏離理論預(yù)測

微粒粒徑與數(shù)目濃度為影響理論與實(shí)測不透光度差異之主要影響因子，折射

率之影響則較不明顯。

實(shí)測不透光率之差異，定性上可與微粒對(duì)光之多重散射以及遮蔽效應(yīng)相對(duì)照。

尤其是在粒徑增大及微粒數(shù)目增多之案例中，多重散射效應(yīng)較顯著

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不透光度皆高于實(shí)測之不透光度-光學(xué)測量儀器,熒光顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)