探討熱回火處理對(duì)二氧化鈦(TiO2)光學(xué)薄膜的光學(xué)特性,殘留應(yīng)力的機(jī)械性質(zhì)和微觀柱狀結(jié)構(gòu)等影響。光學(xué)特性是經(jīng)由穿透光譜加以判讀,殘留應(yīng)力的量測(cè)則是透過自己架設(shè)的相位偏移式干涉儀。在微觀結(jié)構(gòu)方面, X光繞射儀判斷薄膜內(nèi)部的結(jié)晶狀況,X光光電子能譜儀可以了解熱回火過程的氧化模態(tài)變化,掃描式電子顯微鏡可以觀察不同熱回火溫度的柱狀微觀結(jié)構(gòu)變化,原子力顯微鏡可以觀看膜質(zhì)的表面輪廓和粗糙度,顯微干涉儀可量測(cè)較大面積的表面粗糙度。
后一篇文章:專業(yè)微生物研究電子視頻顯微鏡-上海光學(xué)儀器一廠 »前一篇文章:« 光學(xué)輪廓儀模式以激光掃描樣品表面
tags:技術(shù),生物顯微鏡,精密儀器,
本頁地址:http://www.royalbiomedical.com/wz/457.html轉(zhuǎn)載注明本站地址:http://www.royalbiomedical.com/ http://www.xianweijing.org/
版權(quán)申明:Copyright2012- 2015 禁止拷貝復(fù)制本站的文字和圖片,本站所有版權(quán)由上海光學(xué)儀器廠丨生物顯微鏡分部所有- 生物顯微鏡專賣-上海光學(xué)儀器廠丨生物顯微鏡分部-本站地址http://www.royalbiomedical.com/
百度統(tǒng)計(jì):