本文標題："測定材料基片上孔洞的多少及大小分布"

發(fā)布者：YIYI ------ 分類: 站內(nèi)動態(tài) ------ 人瀏覽過 -----時間：2015-11-7 15:38:34

測定材料基片上孔洞的多少及大小分布

    滯后作用是通過解吸周期說明的，它起因于多孔表面結(jié)構(gòu)。
用這種特性可以測定材料基片上孔洞的多少及大小分布。Vyoar
呈多孔狀，可用作吸收幾種晶體管密封外殼內(nèi)的水蒸氣的吸氣劑。
    在物理吸附現(xiàn)象中，可利用試驗技術(shù)來測定固體或粉末的表
面積(以及測定孔洞的大小)。對選擇用作吸附基片的材料來說這
種資料是重要的，活性碳可用來除去周圍空氣中的有機物，無水硅
土與活性鋁則可利用其除水能力。
    還能測定表面粗糙度以及表面破裂與裂縫。還有力的證明了
(物理吸附研究也證實了)呈現(xiàn)這些特色的表面還可以充當催化劑。

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測定材料基片上孔洞的多少及大小分布,熒光顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)

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