離子顯微分析器采用極高的靈敏度和空間分辨率
微電子器件的檢測往往要求極高的靈敏度和空間分辨率。不論用火花源質(zhì)誘儀,還是用電子微探針分析器都可同時(shí)達(dá)到這兩方面的要求。此外,若采用離子顯微分析器,可以火花源質(zhì)譜儀在靈敏度方面提高二個(gè)數(shù)量級。在分析面積方面,它比電子微探針分析器稍大一些。在深度方面,比火花源質(zhì)譜儀或電子微探針分析器都要小得多。因此,離子顯微分析器在所謂“重量檢測”靈敏度方面,比火花源質(zhì)譜儀或電子微探針分析器都要大4到5個(gè)數(shù)量級。 基本原理 離子微探針質(zhì)譜儀是一種微分析儀,它產(chǎn)生一束加速單能離子束(通常是氧或氬離子),用以腐蝕或電離試樣表層。
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