本文標(biāo)題："用于測(cè)試設(shè)備進(jìn)行非破壞性的連續(xù)分析光譜掃描"

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用于測(cè)試設(shè)備進(jìn)行非破壞性的連續(xù)分析光譜掃描

    原理X一射線熒光光譜是由X-射線管的X一射線轟擊試樣
而得到的。首先這種光束在試樣上引起組成部分，以致失去X一射
線熒光光譜的性能(圖H-7),熒光是由內(nèi)層電子躍遷而產(chǎn)生的。其
次，來(lái)自試樣的X-射線熒光由定性品體進(jìn)行衍射，這種規(guī)則晶體
而可作為衍射光柵。用喬杰計(jì)數(shù)器、閃爍計(jì)數(shù)器以及其它器件如
同脈沖一樣可檢測(cè)X一射線。
    靈敏度與應(yīng)用在目前已發(fā)現(xiàn)的元素中，X一射線熒光光譜具
有較高的精密性。對(duì)于雜質(zhì)在100 ppm以上的塊狀試樣也能準(zhǔn)確
進(jìn)行分析，對(duì)含有若干徽米克污染量的試樣也能以15%準(zhǔn)確度
檢測(cè)，X一射線光譜一般可用其它測(cè)試設(shè)備進(jìn)行非破壞性的連續(xù)
分析。
    光譜掃描可用于定性分析，但使用這種方法，其掃描和時(shí)間消
耗有密切關(guān)系(正常的掃描約一個(gè)小時(shí))，一般說(shuō)，這種靈敏性小于
放射光譜。由于上述原因，在檢測(cè)一個(gè)試樣的多種元素時(shí)，X一射
線熒.光比放射光譜強(qiáng)得多，X-射線熒光光譜通常用于定ift分析，
或者對(duì)類似試樣的個(gè)別元素的濃度作比較。

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