本文標(biāo)題："運(yùn)用方網(wǎng)側(cè)試系統(tǒng)什么是側(cè)試線，什么是側(cè)試點(diǎn)？"

運(yùn)用方網(wǎng)側(cè)試系統(tǒng)什么是側(cè)試線，什么是側(cè)試點(diǎn)？

方網(wǎng)側(cè)試系統(tǒng)是體視學(xué)中常用的手工測(cè)試系統(tǒng)之一。它將一個(gè)

大正方形(或長方形)的邊長均等分幾次，形成由若干個(gè)小正方格組成

的測(cè)試格，方網(wǎng)內(nèi)縱橫交錯(cuò)的實(shí)線為側(cè)試線，縱橫實(shí)線之交點(diǎn)為側(cè)試點(diǎn)。

若方網(wǎng)縱向長度為LA,縱向共有二條實(shí)線，橫向長度為LA.共有幾條實(shí)線，

方網(wǎng)內(nèi)每個(gè)小正方格的邊長為d，則可計(jì)算出該方網(wǎng)測(cè)試格的一些基本常

數(shù)。

方網(wǎng)側(cè)試格繪制方便，其網(wǎng)格可琉可密、可大可小，網(wǎng)格大，測(cè)試點(diǎn)

少，側(cè)量省時(shí)，效率高，但測(cè)誤差大。網(wǎng)格小，側(cè)試點(diǎn)多，誤差小，但

測(cè)量費(fèi)時(shí)，效率低.一般應(yīng)使每一測(cè)試點(diǎn)代表的測(cè)試面積。小于或等于所測(cè)

結(jié)構(gòu)的平均截面面積，以盡量減少截面漏測(cè)。

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