本文標(biāo)題："由不同的斷裂過程產(chǎn)生同一種斷口檢測顯微鏡"

由不同的斷裂過程產(chǎn)生同一種斷口檢測顯微鏡

同一種斷口形貌，可由不同的斷裂過程產(chǎn)生，可屬于不同

的斷裂類型。例如，沿晶斷裂的斷口，可由下列斷裂類型之

一產(chǎn)生:

(a)高溫、低應(yīng)力、長時間的蟠變斷裂;

(b)超高強鋼在水介質(zhì)巾的應(yīng)力腐蝕斷裂:

(c)回火脆化鋼的疲勞斷裂;

(d)回火脆化鋼的沖擊或彎曲斷裂。

各種斷裂過程是相互競爭的過程.有些過程雖然在能量

有利，但進行緩慢，需要較長時間才能完成。.因此，在同一斷口

上，幾種相互竟?fàn)幍倪^程導(dǎo)致的斷裂形貌可以同時存在。

、

斷口分析的結(jié)果，可以啟示韌化措施。

材料受環(huán)境介質(zhì)的化學(xué)、電化學(xué)和物理作用引起的變質(zhì)或

破壞的現(xiàn)象，叫做材料的腐蝕。

例如，耐火磚受熔化金屬的腐蝕，水分子在高溫可以侵入石英

或硅酸鹽材料而使·之變質(zhì)等‘至于物理作用引起的變質(zhì)或破壞，

應(yīng)屬于其它的材料失效方式，不宜將“腐蝕”概念延伸過廣。

本節(jié)只考慮金屬的腐蝕，特別是金屬的電化學(xué)腐蝕，以及金

屬材料在這些化學(xué)介質(zhì)中的耐蝕性。

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由不同的斷裂過程產(chǎn)生同一種斷口檢測顯微鏡,熒光顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)