本文標(biāo)題："礦物的光學(xué)性質(zhì)、物理特征研究測(cè)量圖像顯微鏡"

礦物的光學(xué)性質(zhì)、物理特征研究測(cè)量圖像顯微鏡

目前，對(duì)礦物的光學(xué)性質(zhì)、物理性質(zhì)進(jìn)行研究測(cè)量的儀器隨

著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展而愈趨精密，可以測(cè)定的光學(xué)、物理性質(zhì)也日

益增多，從而大大地提高了對(duì)礦物的鑒定能力和精度。盡管如

此，對(duì)礦物的化學(xué)成分的測(cè)定仍然是十分重要的。

近年來，隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，不少顯微分析儀器的發(fā)明，

推廣和改進(jìn)，使對(duì)礦物特別是微細(xì)礦物的化學(xué)成分的測(cè)定已成為

可能。如電子探針儀、離子探針儀，激光顯微光譜儀等儀器的發(fā)

明和推廣，大大地便利了對(duì)礦物的鑒定和提高對(duì)礦物特別是微細(xì)

礦物的鑒定的準(zhǔn)確性。

其全名是電子探針x射線顯微分析儀，是一種取電子顯微鏡

和x射線光譜儀的特點(diǎn)加以組合改進(jìn)而成的儀器。其特點(diǎn)是在不

破壞光片或試樣的情況下，進(jìn)行以微米為單位的微區(qū)成分分析，

同時(shí)也可以對(duì)礦物進(jìn)行形態(tài)觀察。

電子探針儀由電子槍發(fā)射的高速電子經(jīng)聚焦成極細(xì)的電子束

(探測(cè)針)，直接轟擊礦物光片(或試樣)的表面，使被轟擊的

元素產(chǎn)生特征的x射線，‘電子探針儀即根據(jù)試樣產(chǎn)生的特征x射

線的波長(zhǎng)和強(qiáng)度來測(cè)定其中所含元素的性質(zhì)及其含量。同時(shí)也可

根據(jù)各種電子圖像和x射線圖像來了解樣品表面結(jié)構(gòu)，起伏和元

素分布狀態(tài)。

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