本文標(biāo)題："干涉顯微鏡的應(yīng)用-金相研究中主要用于檢查磨片質(zhì)量"

干涉儀在金相研究中主要用于檢查磨片質(zhì)量，

確定腐蝕規(guī)范，測定金相試片上結(jié)構(gòu)組分浮雕的大

小，以及測定塑性變形時(shí)的滑移量等，它和相襯的

差別在于相襯主要用于顯露組織細(xì)節(jié)，以提高圖象

襯度；顯微干涉儀則主要浮雕大小作出定量評定。

微差干涉襯度

微差干涉襯度的基本概念

如前所述，在干涉條件下所觀察到的視場是干涉

條紋疊加著顯微組織。當(dāng)用一定波長的單色光觀察

時(shí)，干涉條紋的間隔等于波長的1/2。

當(dāng)試樣中相鄰組織高低略有差別時(shí)，其間就具有微

小光程差，這將導(dǎo)致干涉條紋的位移。由于位移的

結(jié)果，使原條紋亮處的第二相變黑，原條紋黑處的

第二相變亮。如果把條紋間隔展寬到一個(gè)視場，

則微小的光程差，就很靈敏地轉(zhuǎn)化為亮度差，這就

叫做微差干涉襯度。若用白色光來觀察，則可得到

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干涉顯微鏡的應(yīng)用-金相研究中主要用于檢查磨片質(zhì)量,熒光顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)